英飞思XRF镀层测厚仪优势
gt;微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
gt;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
gt;全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。
声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。
安阳膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪-苏州英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司在分析仪器这一领域倾注了诸多的热忱和热情，英飞思科学一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创**。相关业务欢迎垂询，联系人：张经理。