XRF镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
英飞思XRF镀层测厚仪优势
gt;微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。
gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
gt;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
gt;全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，膜厚仪EDX8000T Plus，可以轻松地进行日常测量。
gt;镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
gt;钢上锌等防腐涂层
gt;电路板和柔性PCB上的涂层
gt;插头和电触点的接触面
gt;电镀液分析
gt;镀层，如金基上的铑材料分析
gt;电镀液分析
gt;分析电子和半导体行业的功能涂层
gt;分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN
gt;可拓展增加RoHS有害元素分析功能
新余膜厚仪EDX8000T Plus-英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司位于苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前英飞思科学在分析仪器中享有良好的声誉。英飞思科学取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。英飞思科学全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。