全国服务热线: 18962189136

福建EDX8000T Plus镀层测厚仪 英飞思科学仪器

发布日期 :2023-04-08 13:06发布IP:123.58.44.124编号:11627308
分 类
试验分析仪器
单 价
电议
有效期至
长期有效
咨询电话
0512-68635865
手机
18962189136
Email
sales@esi-xrf.com
让卖家联系我
详细介绍





XRF金属镀层测厚仪产品特点

gt;测试快速,无需样品制备

gt;可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,EDX8000T Plus镀层测厚仪,污染或破坏被测物

gt;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

gt;可覆盖元素周期表Mg镁到U铀

gt;SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率

gt;可切换准直器和滤光片

XRF金属镀层测厚仪应用场景

gt;EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;

gt;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

gt;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度





苏州英飞思科学仪器有限公司测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。



英飞思XRF镀层测厚仪优势

gt;微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。

gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

gt;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

gt;全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。






福建EDX8000T Plus镀层测厚仪-英飞思科学仪器由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司为客户提供“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”等业务,公司拥有“英飞思”等品牌,专注于分析仪器等行业。,在苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室的名声不错。欢迎来电垂询,联系人:张经理。
相关分类
推荐产品
信息搜索
 
矿石分析仪新闻
苏州英飞思科学仪器有限公司
  • 地址:苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室
  • 电话:0512-68635865
  • 手机:18962189136
  • 联系人:张经理
edx8000t产品