全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。
苏州英飞思科学仪器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，Ltd.
公司logo和英文缩写为ESI。
英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。
XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
苏州英飞思科学仪器有限公司测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。
邯郸膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪-苏州英飞思由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是一家从事“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“英飞思”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上，用户至上”的原则，使英飞思科学在分析仪器中赢得了客户的信任，树立了良好的企业形象。 特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！