不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量，这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。探测系统测量这些出来的二次X射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量——每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。特点分析范围：0.3%～99.99%测量时间：自适应测量精度：±0.1%测试环境：常温常态.
比如可以测试塑料里面50ppm的Cl氯元素；铜合金里面的0.01%的镉Cd，0.005%的铅Pb，0.03%的铝Al；黄金里面的0.01%镉Cd；锡合金里面的0.005%铬Cr；矿产里面低含量的镁铝硅等
5.仪器的长期稳定性，客户可以每周测试厂家提供的校准样。对于仪器长期稳定性优良的设备，同样的校准样在长时间跨度范围内的结果波动是非常小的。
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